АО "ЭНПО СПЭЛС"

С 2005г. испытано

типов изделий

Выбор языка:

Подробнее о Микроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти.
СостояниеЗначение
НазваниеМикроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти.
Описание

Влияние радиационных факторов на стойкость изделий.

Микроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти. 

Размер файла298.03 Кбайт
Тип файлаpdf (Тип Mime: application/pdf)
Добавлено: 11/13/2012 16:43
Скачиваний5393 Скачиваний
Навигация по сайту: Главная страница Библиотека Публикации Микроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти.