АО "ЭНПО СПЭЛС"

С 2005г. испытано

типов изделий

Выбор языка:

МЭС

ДокументыДата добавления

Сортировать по : названию | дате | популярности [ по возрастанию ]
Оценка параметров чувствительности БИС к эффектам воздействия отдельных ядерных частиц с использованием лазерной и импульсной гамма- установок.

Особенности оценки радиационной стойкости микросхем в специализированных защитных корпусах.

Методики исследования и предотвращения развития катастрофического отказа вследствие одиночного тиристорного эффекта.
Исследование влияния ионизирующих излучений на характеристики гетероструктурных полевых транзисторов на нитриде галлия.
Автоматизированная пикосекундная лазерная установка для моделирования эффектов от отдельных заряженных частиц космического пространства в микроэлектронных приборах.