АО "ЭНПО СПЭЛС"

С 2005г. испытано

типов изделий

Выбор языка:

Микроэлектроника 2012

ДокументыДата добавления

Сортировать по : названию | дате | популярности [ по убыванию ]

Влияние радиационных факторов на стойкость изделий микроэлектроники.

Анализ радиационного поведения импульсных стабилизаторов напряжения.

Влияние радиационных факторов на стойкость изделий микроэлектроники.

Исследование возможности разработки радиационно стойких бис навигационного назначения по отечественной кмоп кни технологии с нормами 0.35 мкм. 

 

Влияние радиационных факторов на стойкость изделий.

Микроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти. 

Навигация по сайту: Главная страница Библиотека Публикации Библиотека Публикации Микроэлектроника 2012