Выбор языка:
Адлер 2009г.
Презентации участников...
ДокументыДата добавления
Методы коррекции кратных ошибок в СБИС ОЗУ
Проблемные вопросы сертификации ЭКБ в системе ФССКТ
Научно-методические и технические трудности оценки радиационной стойкости ЭКБ ИП.
Часть 2. Локальные эффекты
Научно-методические и технические трудности оценки радиационной стойкости ЭКБ ИП.
Часть 1. ТРадиционные эффекты
Организация проведения сертификационных испытаний на радиационную стойкость ЭКБ ИП в ИЦ ОАО «РНИИ «Электронстандарт»
Рабочее место для испытаний изделий полупроводниковой электроники на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц на циклотроне У-400
Высоконадежные электронные компоненты для применения в изделиях авиационной и космической промышленности
Комплект ИС для микромеханического акселерометра
В.И.Куклин, В.И.Орлов, В.В.Федосов (ОАО "ИТЦ– НПО ПМ", г.Железногорск)популярный!
10/20/2009
Скачиваний: 1872
Результаты работ по обеспечению качества электрорадио-изделий отечественного производства для комплектования бортовой аппаратуры космических аппаратов за период 01.2008г. – 06.2009г.
В.И.Куклин, В.И.Орлов, В.В.Федосов (ОАО "ИТЦ–НПО ПМ", г.Железногорск)популярный!
10/20/2009
Скачиваний: 2308
Опыт совместных работ ОАО «ИТЦ-НПО ПМ» и заводов-изготовителей по обеспечению качества ЭРИ для космического применения
Испытания изделий электроники
В.С.Сякерский (УП «Завод полупроводниковых приборов», г.Минск)популярный!
10/20/2009
Скачиваний: 1668
Разработка и производство интегральных микросхем специального назначения в НПО «Интеграл»
Опыт США по эффективному созданию высоконадежной аппаратуры с военным и авиакосмическим назначением на базе систем в корпусе
Документация, сопровождающая ЭРИ с квалификацией QML Q/V/H/K. Проблемы и подход к их решению
Разработки НИИСИ РАН в области спецстойких микросхем
Стойкость ИМС производства ЗАО «ПКК МИЛАНДР» к ВВФ
32-х разрядный микроконтроллер 1986ВЕ91 на базе ядра ARM Cortex™-M3 и его модификации
Современные решения в области тестирования электронной компонентной базы
Влияние суммарной поглощённой дозы на характеристики элементной базы КНИ КМОП БИС ОЗУ
Корпуса для микросхем и полупроводниковых приборов специального назначения: требования к качеству и его обеспечение в процессе разработки и производства корпусов
