АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Адлер 2009г.
Презентации участников...

ДокументыДата добавления

Сортировать по : названию | дате | популярности [ по убыванию ]

Методы коррекции кратных ошибок в СБИС ОЗУ

Проблемные вопросы сертификации ЭКБ в системе ФССКТ

Научно-методические и технические трудности оценки радиационной стойкости ЭКБ ИП.

Часть 2. Локальные эффекты

Научно-методические и технические трудности оценки радиационной стойкости ЭКБ ИП.

Часть 1. ТРадиционные эффекты

Организация проведения сертификационных испытаний на радиационную стойкость ЭКБ ИП в ИЦ ОАО «РНИИ «Электронстандарт»

Рабочее место для испытаний изделий полупроводниковой электроники на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц на циклотроне У-400

Высоконадежные электронные компоненты для применения в изделиях авиационной и космической промышленности

Комплект ИС для микромеханического акселерометра

Результаты работ по обеспечению качества электрорадио-изделий отечественного производства для комплектования бортовой аппаратуры космических аппаратов за период 01.2008г. – 06.2009г.

Опыт совместных работ ОАО «ИТЦ-НПО ПМ» и заводов-изготовителей по обеспечению качества ЭРИ для космического применения

Испытания изделий электроники

Разработка и производство интегральных микросхем специального назначения в НПО «Интеграл»

Опыт США по эффективному созданию высоконадежной аппаратуры с военным и авиакосмическим назначением на базе систем в корпусе

Документация, сопровождающая ЭРИ с квалификацией QML Q/V/H/K. Проблемы и подход к их решению

Разработки НИИСИ РАН в области спецстойких микросхем

ЗАО ЗАО "ПКК МИЛАНДР"популярный! 10/20/2009 Скачиваний: 3269

Стойкость ИМС производства ЗАО «ПКК МИЛАНДР» к ВВФ

ЗАО ЗАО "ПКК МИЛАНДР"популярный! 10/20/2009 Скачиваний: 3476

32-х разрядный микроконтроллер 1986ВЕ91 на базе ядра ARM Cortex™-M3 и его модификации

Современные решения в области тестирования электронной компонентной базы

Влияние суммарной поглощённой дозы на характеристики элементной базы КНИ КМОП БИС ОЗУ

Корпуса для микросхем и полупроводниковых приборов специального назначения: требования к качеству и его обеспечение в процессе разработки и производства корпусов

Страница 1 из 2