АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Конференция "ЭКБ-2012"

ДокументыДата добавления

Сортировать по : названию | дате | популярности [ по убыванию ]

Методики исследования и предотвращения развития катастрофического отказа вследствие одиночного тиристорного эффекта.

Яненко А.В.

Особенности исследований радиационной стойкости аналоговых микросхем.
А.Ю. Никифоров, Д.В. Бойченко, Л.Н. Кессаринский.
Оценка и прогнозирование стойкости ЭКБ при воздействии отдельных ядерных частиц космического пространства
Чумаков А.И.
Программа Российской научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2012»
Навигация по сайту: Главная страница Конференции и семинары Конференции и семинары Конференция "ЭКБ-2012"