Возможности и ограничения существующих методов радиационных испытаний интегральных микросхем.
Чумаков А.И. (НИЯУ «МИФИ» - ОАО «ЭНПО СПЭЛС»).
Особенности испытаний ЭРИ на стойкость к воздействию ТЗЧ на моделирующих и имитирующих установках.
Яненко А.В., Ахметов А.О., Бобровский Д.В., Васильев А.В., Кессаринский Л.Н., Некрасов П.В., Печенкин А.А., Петров А.Г., Савченков Д.В., Тарараксин А.С., Чумаков А.И. (ОАО «ЭНПО СПЭЛС» ,ИЭПЭ НИЯУ «МИФИ» г. Москва).