Стали известны результаты международных квалификационных экзаменов сотрудников АО «ЭНПО СПЭЛС» на знание инженерной среды программирования LabVIEW, полученные из штаб-квартиры National Instruments (г. Остин, штат Техас, США).

Появилась информация о результатах подведения итогов прошлогодней конференции RADECS-2015. Работа авторов АО "ЭНПО СПЭЛС" А.А. Печенкина, П.В.Некрасова, А.Б. Боруздиной и Д.Е. Протасова "SEL Sensitivity Differences in ICs with Same Crystals Marking" победила в номинации Лучший доклад RADECS Data Workshop 2015. 

27 ноября 2015 г. в Москве прошла XIV ежегодная научно-практическая конференция компании National Instruments. Традиционно НОЦ «Стойкость» (АО «ЭНПО СПЭЛС» / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ) был представлен на выставке партнеров NI с демонстрацией стенда «Контроль работоспособности ЭКБ при испытаниях на стойкость к внешним СВФ».