Появилась информация о результатах подведения итогов прошлогодней конференции RADECS-2015. Работа авторов АО "ЭНПО СПЭЛС" А.А. Печенкина, П.В.Некрасова, А.Б. Боруздиной и Д.Е. Протасова "SEL Sensitivity Differences in ICs with Same Crystals Marking" победила в номинации Лучший доклад RADECS Data Workshop 2015. 

27 ноября 2015 г. в Москве прошла XIV ежегодная научно-практическая конференция компании National Instruments. Традиционно НОЦ «Стойкость» (АО «ЭНПО СПЭЛС» / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ) был представлен на выставке партнеров NI с демонстрацией стенда «Контроль работоспособности ЭКБ при испытаниях на стойкость к внешним СВФ».

1 октября 2015 г. на базе НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») при поддержке кафедры №3 «Электроника» НИЯУ МИФИ открылся авторизованный National Instruments научно-образовательный центр коллективного пользования «Интеллектуальные измерительные системы».