АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

25-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2022)

E-mail Печать PDF

stoykost2022 С 7 по 8 июня 2021 года в г. Лыткарино в ДК «МИР» прошла 25-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2022). В конференции приняло участие 226 участников из 30 организаций, было представлено всего 108 стендовых и 27 устных докладов, из которых сотрудники Консорциума «ЭНПО СПЭЛС» - НИЯУ МИФИ» представили 40 стендовых и 8 устных доклада, в том числе на актуальные темы в развитие принятого в марте 2021 года КГВС «Климат-8»:

Армен Вагоевич Согоян

А.В. Согоян1,2, А.И. Чумаков1,2, А.В. Уланова1,2, Д.В. Бойченко1,2, В.Ф.Герасимов3

1НИЯУ МИФИ, 2АО «ЭНПО СПЭЛС», 3ФГБУ «46 ЦНИИ» МО РФ

Методы оценки соответствия изделий ЭКБ требованиям радиационной стойкости: проблемы и перспективы

Александр Иннокентьевич Чумаков

А.И. Чумаков1,2, Д.В. Бобровский1,2, А.В. Согоян1,2, Н.В. Гаранюшкин3, С.Ю. Дианков4, В.Ф. Герасимов4, К.А. Чумаков2,5, О.А. Герасимчук1, Д.И. Юрков1

1НИЯУ МИФИ, 2АО «ЭНПО СПЭЛС», 3ФГКУ «12 ЦНИИ» МО РФ, 4ФГБУ «46 ЦНИИ» МО РФ, 5ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН

Оценка уровней сбоев в ИС при нейтронном воздействии разной интенсивности

Андрей Борисович Каракозов

А.Б. Каракозов, В.А. Марфин, К.А. Москаленко

НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС»

Исследование вероятности сбоя цифровых сложно-функциональных микросхем при импульсном ионизирующем воздействии

Николай Александрович Усачев

Н.А. Усачев, Д.И. Сотсков, Н.М. Жидков, И.А. Данилов, А.Г. Кузнецов, В.В. Елесин

НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС»

Цифровые модели ЭКБ для радиоэлектронной аппаратуры доверенного назначения

Никита Михайлович Жидков

Н.М. Жидков, Д.И. Сотсков, К.М. Амбуркин, А.Г. Кузнецов, Д.М. Амбуркин, В.В. Елесин, Н.А. Усачев

НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС»

Показатели стойкости GaAs функциональных блоков СВЧ приемопередатчиков

Александр Александрович Печенкин

А.Н. Егоров, О.Б. Маврицкий, А.А. Печенкин, Д.В. Савченков, М.С. Холина

НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС»

Практический опыт использования двухфотонного поглощения лазерного излучения для исследования одиночных эффектов

Андрей Георгиевич Петров

А.Г. Петров, И.И. Швецов-Шиловский, С.Б. Шмаков

НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС»

Сравнительный анализ стойкости резистивной и других видов энергонезависимой памяти к воздействию ИИ КП

Андрей Александрович Аникин

А.А. Аникин, К.А. Епифанцев, П.К. Скоробогатов

НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС»

Особенности проведение испытаний на импульсную электрическую прочность в активном электрическом режиме

 
Навигация по сайту: Главная страница Новости Последние новости 25-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2022)