АО "ЭНПО СПЭЛС"

Научно-технический комплекс «Программируемые сложно-функциональные СБИС» (НТК-2)

E-mail Печать PDF

Научно-технический комплекс «Программируемые сложно-функциональные СБИС» (НТК-2) занимается исследованиями и испытаниями, развитием научно-методической и научно-технической испытательной базы, а также аппаратно-программными средствами исследования и контроля основных доминирующих радиационных эффектов и параметров-критериев работоспособности программируемых сложно-функциональных СБИС.

НТК-2 включает в себя четыре научно-технические группы (НТГ): «Запоминающие устройства и оптоэлектроника», «ПЛИС, БМК и интерфейсные СБИС», «Микропроцессорные систем», «АЦП/ЦАП», а также два подразделения занимающихся  моделированием радиационных эффектов (приборно-технологическим, схемотехническим) и расчетом радиационной обстановки космических аппаратов и 3D-моделированием.

Научные интересы НТК направлены на развитие научно-методических и технических подходов к проведению радиационного эксперимента, изучению доминирующих механизмов отказов программно-управляемых сложно-функциональных СБИС и их элементов, а также моделированию поведения отклика изделий при радиационных воздействиях. В настоящее время в НТК-2 работают 4 кандидата технических наук, 3 соискателя, 7 аспирантов и более 5 студентов-практикантов.

НТК-2 имеет 3 патента, более 5 свидетельств на программный продукт, более 100 научных работ в различных журналах и сборниках, включая статьи в базах данных РИНЦ и Scopus. Сотрудники НТК-2 ежегодно принимают участие в более 10 всероссийских и международных конференциях и семинарах.

 
Типовые контролируемые параметры (измеряются автоматически) для  программно-управляемых сложно-функциональных СБИС представлены в таблице:
Типовые контролируемые параметры для цифровых СБИС
Типовые нормы
Функциональный контроль и сохранность информации
--
Выходное напряжение низкого уровня
< 0,4В
Выходное напряжение высокого уровня
> 2,4В
Входной ток низкого уровня
0,01…100мкА
Входной ток высокого уровня
100мкА
Выходной ток низкого уровня в состоянии «Выключено»
100мкА
Выходной ток высокого уровня в состоянии «Выключено»
100мкА
Ток потребления статический и динамический по (UCC1, UCC2 и.т.д.)
нормы сильно зависят от
микросхемы: от 1 мкА 
до  2А
Временные параметры: задержка распространения сигнала,
время выборки ячейки памяти, время преобразования и установления для АЦП/ЦАП и т.п.
5нс …. 1000 мс
Тиристорный эффект, катастрофический отказ
--
Параметры характеристики преобразования АЦП-ЦАП:
Интегральная нелинейность
Дифференциальная нелинейность
Отклонение в начальной точке шкалы
Отклонение в конечной точке шкалы
     и прочее…..
контролируется вся характеристика преобразования
Оптические и электрические параметры изделий оптоэлектроники
--

 

Типовая процедура радиационных испытаний программно-управляемых сложно-функциональных СБИС включает в себя следующие шаги:

1.    Анализ объекта. Выявление наиболее критичных внутренних блоков и режимов работы для всех требуемых видов радиационных воздействий.

2.    Выпуск программы-методики испытаний.

3.    Адаптация аппаратно-программного комплекса.

4.    Разработка оснастки позволяющей обеспечить полноценный функциональный и параметрический контроль с учетом анализа объекта испытания и с возможностью контроля дополнительных параметров.

5.    Реализация функционального контроля. Работа на предельных частотах. Тестирование максимального количества внутренних блоков.

6.    Реализация контроля критериальных параметров. Обеспечение требуемых режимов  и точности измерения.

7.    Проведение испытаний и выпуск протокола.


Процентное соотношение испытанных в НТК-2 изделий Процентное соотношение испытанных в НТК-2 изделий 

Апаратно-программные средства
Внешний вид стенда контроля работоспособности сложно-функц. СБИС Стенд контроля работоспособности сложно-функц. СБИС Типовой стенд контроля работоспособности сложно-функциональных СБИС основан на оборудовании ф.National Instrumentsв сочетании с программным обеспечением LabView
 
Пример кросс-платы для тестирования СБИС Пример кросс-платы для тестирования СБИС


НТК-2 представлено четырьмя основными научно-техническими группами (НТГ):

1) НТГ: «ПЛИС, БМК и интерфейсных СБИС».

Руководитель (заместитель начальника НТК-2): Бобровский Дмитрий Владимирович –  Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript , +7-926-170-66-60

Область интересов: радиационные исследования и испытания различных классов БМК и ПЛИС (FPGA, CPLD и Antifuse), а также различного рода программно-управляемых интерфейсов. Сопровождение испытаний, разработка методических подходов и моделей радиационного отклика данных видов приборов.

Подробнее про группу…

Ссылка на литературу по тематике группы

2) НТГ «Микропроцессорные системы».

Руководитель: Некрасов Павел Владимирович –  Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript , +7-926-279-39-30

Область интересов: радиационные исследования и испытания различных классов микропроцессоров и микроконтроллеров. Сопровождение испытаний, разработка методических подходов и моделей радиационного отклика данных видов приборов. Развитие аппаратно-программных средств тестирования сложно-функциональных СБИС.

Подробнее про группу…

Ссылка на литературу по тематике группы

3) НТГ «Запоминающие устройства и оптоэлектроника».

Руководитель: Петров Андрей Григорьевич –  Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript , +7-926-560-09-31

Область интересов: радиационные исследования и испытания микросхем памяти различных типов: энергозависимых (СОЗУ, ДОЗУ, регистровых СОЗУ и т.п), энергонезависимых (масочных и перепрограммируемых ПЗУ, флэш-памяти), а также микросхем памяти на других принципах хранения информации – FRAM, MRAM, ReRAM и пр.. Сопровождение испытаний, разработка методических подходов и моделей радиационного отклика данных видов приборов.

Подробнее про группу...

Ссылка на литературу по тематике группы

4) НТГ «АЦП/ЦАП».

Руководитель: Демидов Александр Алексеевич –  Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript , +7-910-481-33-15

Область интересов: радиационные исследования и испытания аналогово-цифровых (АЦП) и цифро-аналоговых преобразователей (ЦАП) следующих основных типов: прецизионные; быстродействующие; функционально-завершенные сопрягаемые с МП (т.е. работающие в автономном режиме и не требующие подключения внешних микросхем); многоканальные; преобразователи напряжение-частота-напряжение; широкого применения (средний уровень параметров и низкая стоимость); специализированные сложно функциональные (с элементами программного управления, самокоррекцией, фильтрацией и др., а также радиационно стойкие и т.п.); сверхбыстродействующие (в том числе на основе новых полупроводниковых материалов и физических принципов). Сопровождение испытаний, разработка методических подходов и моделей радиационного отклика данных видов приборов.

Подробнее про группу...

Руководитель НТК-2 Уланова А.В. ( Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript , +7-916-351-63-64) является куратором отечественных лидирующих предприятий разработчиков и производителей радиационно-стойкой ЭКБ, таких как ФГУП «ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е.Седакова», ОАО «НИИМЭ и Микрон», ОАО «Интеграл», НИИСИ РАН и других.

FAQ НТК-2

 
 
Навигация по сайту: Главная страница