АО "ЭНПО СПЭЛС"

Научно-технический комплекс «Аналоговые и цифровые ИС» (НТК-3)

E-mail Печать PDF
НТК-3 специализируется на исследовании радиационного поведения изделий цифровой, аналоговой и силовой электроники, преобразователях физических величин, датчиков, уделяя особое внимание корректному контролю точностных характеристик прецизионных микросхем, заданию тестовых полей для датчиков физических величин, информативному контролю работоспособности.
 
Основные области научных интересов и решаемых задач НТК-3:
• Исследования радиационного поведения
             прецизионных аналоговых микросхем
             дискретных цифровых микросхем
             приемо-передатчиков
             преобразователей сигналов
             датчиков физических величин
             вторичных источников питания
             мощных полупроводниковых приборов
             тестовых структур
             МЭМС и МСТ изделий
• Подготовка и проведение радиационных экспериментов для оценки показателей стойкости
• Разработка и изготовление индивидуальной контрольно-измерительной оснастки
• Создание автоматизированных измерительных комплексов для контроля работоспособности изделий
• Образовательная деятельность в вопросах автоматизации и проведения радиационного эксперимента

 

Научно-техническая группа «Аналоговые интегральные схемы» (НТГ «АИС»)

НТГ «АИС» проводит радиационные исследования всей номенклатуры аналоговых микросхем отечественного и иностранного производства: операционных усилителей, аналоговых компараторов, аналоговых БМК, стабилизаторов напряжения (линейных и импульсных, источников опорного напряжения), модулей преобразователей напряжения (вторичных источников питания), датчиков физических величин (температуры, магнитного поля, давления, ускорения и др.), стойкости пассивных компонентов (резисторов, конденсаторов, индуктивностей), дискретных полупроводниковых приборов (диодов, биполярных, МОП, IGBT-транзисторов), МЭМС и МСТ изделий, тестовых структур и др.

 

Научно-техническая группа «Цифровые интегральные схемы и полупроводниковые приборы» (НТГ «ЦИС и ППП»)

НТГ «ЦИС и ППП» специализируется на исследовании радиационного поведения дискретных цифровых микросхем отечественного и иностранного производства: цифровая логика, микросхемы трактов промышленных интерфейсов передачи данных (приемопередатчики стандартов RS232/485/688, CAN, 1-, 2-, 3-проводных линий связи, дифференциальных сигнальных линий), микросхемы преобразователей информации (температура, сопротивление, преобразователи напряжение-код). 

 

Научно-техническая группа «Испытания АИС и ЦИС на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц» 

НТГ проводит исследования локальных радиационных эффектов от тяжелых заряженных частиц в аналоговых и дискретных цифровых микросхемах, изделиях силовой электроники, мощных МОП и IGBT транзисторах. Исследования проходят с применением автоматизированных контрольно-измерительных комплексов адаптированных для проведения экспериментов на циклотронах тяжелых ионов «У-400» и «У-400М» (ОИЯИ г. Дубна), синхротроне протонов (ПИЯФ г. Гатчина), лазерных источников ПИКО-3, ПИКО-4, ФЕМТО-Т и РАДОН-9Ф). 

  
Контроль работоспособности стабилизаторов напряжения в процессе облучения
Контроль параметров МОП-транзисторов в процессе облучения
Контроль работоспособности операционных усилителей в процессе облучения
Контроль работоспособности нестандартных микросхем (преобразователя напряжение – частота) в процессе облучения
Контроль работоспособности приемо-передатчиков
Контроль работоспособности стабилизаторов напряжения при облучении ТЗЧ (циклотрон У-400М, г. Дубна)
 
Навигация по сайту: Главная страница