АО "ЭНПО СПЭЛС"

С 2005г. испытано

типов изделий

Выбор языка:

  • Вакансии

По вопросам работы в АО "ЭНПО СПЭЛС" предлагаем обращаться к Яненко Андрею Викторовичу avyan@spels.ru или Бойченко Дмитрию Владимировичу dvboy@spels.ru - приоритет предоставляется студентам, аспирантам и сотрудникам НИЯУ "МИФИ".

О предприятии

E-mail Печать PDF

Акционерное общество «Экспериментальное научно-производственное объединение СПЕЦИАЛИЗИРОВАННЫЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ СИСТЕМЫ» (АО «ЭНПО СПЭЛС») сформировано в 1989 г. на основании распоряжения Президиума АН СССР из сотрудников Московского инженерно-физического института. В 1991 г. АО «ЭНПО СПЭЛС» перерегистрировано Московской регистрационной палатой в Открытое акционерное общество, а в 2014 году переименовано в Акционерное общество «Экспериментальное научно-производственное объединение СПЕЦИАЛИЗИРОВАННЫЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ СИСТЕМЫ» (АО «ЭНПО СПЭЛС»).

Подробнее...
 

Отчет о результатах участия в КрыМиКо-2019

E-mail Печать PDF

krimco В период с 8 по 14 сентября 2019 года сотрудники НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» Громов Д.В., Жидков Н.М., Селищев И.А. приняли участие с четырьмя устными докладами в 29-ой Международной Крымской конференции «СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии» (КрыМиКо-2019), которая проходила на территории Севастопольского государственного университета в городе Севастополе, Республика Крым, Россия.

Подробнее...
 

Научно-техническая конференция «Высокие технологии атомной отрасли. Молодежь в инновационном процессе»

E-mail Печать PDF

summit В период с 24.09.19 по 26.09.19 в рамках Международного DIGITAL саммита Титовец Д.О. от лица АО «ЭНПО СПЭЛС» и Калашников В.Д. от лица НИЯУ МИФИ приняли участие в 14-й отраслевой научно-технической конференции молодых специалистов Госкорпорации «Росатом» с докладами «Оценка параметров чувствительности по одиночным радиационным эффектам сбоев при воздействии нейтронов ядерных установок» (авторы работы: Д.О. Титовец, В.А. Марфин, Д.В. Бобровский, А.И. Чумаков, А.Б. Каракозов) и «Влияние повышенной интенсивности набора дозы ионизирующего излучения на стойкость КМОП микросхем» (авторы работы: В.Д. Калашников, А.Ю. Егоров, А.В. Согоян, А.И Чумаков, А.Б. Каракозов).

Подробнее...
 
Навигация по сайту: Главная страница